KI-gestützte Void-Analyse für zuverlässige Elektronikprüfung in der Betaphase.
Die intuitive Plattform für Ihre Void-Erkennung: Daten sicher hochladen, Analysen unkompliziert beauftragen und Ergebnisse effizient vergleichen.
Whitepaper: Verdecktes sichtbar machen
Das aktuelle Whitepaper zeigt, wie machine-learning-gestützte Analyseverfahren die Detektion verdeckter Defekte in Lötverbindungen verbessern - auch bei komplexen Geometrien, schwachen Kontrasten und stark variierenden Grauwerten.
Void-Analysen von XRAInspect - Ihre Vorteile auf einen Blick
Präzise Analysen durch KI
Ein speziell trainiertes Convolutional Neural Network (CNN) erkennt selbst bei komplexen Geometrien und schwachen Kontrasten zuverlässig Voids.
Intuitiver Workflow von Upload bis zum Ergebnis
Laden Sie Ihre Scans bequem hoch, organisieren Sie Ihre Röntgen-Dateien in Projekten und beauftragen Sie die Analysen bequem über die Plattform.
Detaillierte Visualisierung & Reports
Verstehen Sie Ihre Daten besser durch klare einzelne Bildanalysen, Histogramme und Vergleichsanalysen über mehrere Bauteile.
Starten Sie jetzt Ihre erste Analyse mit XRAInspect!
Nutzen Sie die Vorteile intelligenter Elektronikprüfung – digital, schnell und zuverlässig.
